RIKEN KEIKI理研AC-2SPro α高強度大氣光電子產(chǎn)額能譜
RIKEN KEIKI理研高強度大氣光電子產(chǎn)額能譜

產(chǎn)品分類

CLASSIFICATION

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詳細(xì)介紹

RIKEN KEIKI理研高強度大氣光電子產(chǎn)額能譜

材料開發(fā)的理想選擇

AC-2S Pro α

特征

配備高強度光學(xué)系統(tǒng)，發(fā)射光量超過2μW

配備低能量照射光學(xué)系統(tǒng)，可測量 2 eV

高達(dá)100℃的高溫測量

薄膜厚度測量

以 0.01eV 為步長的精確測量

配備高要求的多點測量和重復(fù)測量功能

加載 AC-2、3、5 數(shù)據(jù)后，可以進行分析

采用平板型開放式計數(shù)器，可計數(shù)高達(dá)4000cps的光電子。

應(yīng)用

電池材料電子特性的測量

催化材料電子特性的測量

有機電致發(fā)光（EL）及復(fù)印用感光材料的電離電位測量

硬盤和磁帶的摩擦學(xué)研究

半導(dǎo)體和引線框架的表面氧化狀態(tài)測量

精密電子材料中分子級薄膜狀污染的檢測

以下功能材料的電離電位測量：
有機電致發(fā)光、有機太陽能電池、有機晶體管、復(fù)印用光電導(dǎo)材料、鈣鈦礦太陽能電池、量子點、碳納米材料、催化劑材料、蓄電池、燃料電池、半導(dǎo)體材料（Si、GaN、GaAs等）、透明導(dǎo)電薄膜（ITO、FTO等）

產(chǎn)品類別	大氣光電子產(chǎn)額能譜
模型	AC-2S Pro α
測量原理	大氣光電子產(chǎn)額能譜（檢測部分：低能光電子計數(shù)法）
光電子探測器	平開柜臺
紫外線能量范圍	2.0~6.2 eV（620~200 納米）
光照強度	5.0 nW 或更低（5.9 eV 時）
最大光輸出	超過 2500nW（5.9eV 時）
重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)偏差）	功函數(shù)：0.02 eV（樣品：金板）
紫外光源	激光產(chǎn)生等離子光源（LDLS）
紫外線光斑尺寸	最大為4平方毫米（因聚焦透鏡的色差而導(dǎo)致能量變化）
光電子最大計數(shù)率	4000cps
光譜儀	光柵單色儀
最大樣本量	面積50×50 mm以下、厚度10 mm以下
溫度和濕度范圍	溫度范圍：15 至 35°C（無急劇變化）、60% RH 以下（無凝露）、露點：-30°C 以上
電源	主機：AC100 V-240 V 50/60 Hz 5 A (MAX) LDLS (交流適配器)：AC100V-240V 50-60Hz 2.5A LDLS (主機)：DC12V 120W 溫控器：AC100V (±10%) 50/60Hz 1A (MAX) (不包括控制計算機)
外部尺寸	LC（光源單元）：約 623（寬）x 450（深）x 317（高）mm DC（測量單元）：約 465（寬）x 450（深）x 360（高）mm 溫度控制器：約 200（寬）x 150（深）x 280（高）mm LDLS 電源包含在 LC（光源單元）中。
重量	AC-2S LC（光源單元）：約30kg、AC-2S DC（測量單元）：約31kg 溫控器：約5kg（不包括控制計算機）

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